Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1273312414 |
| Titel | EBL: Efficient background learning for x-ray security inspection / by Wei Wang, Linyang He, Yiqing Li, Kai Zhou, Linchao Li, Guohua Cheng, Ting Wen |
| Person(en) |
Wang, Wei (Verfasser) He, Linyang (Verfasser) Li, Yiqing (Verfasser) Zhou, Kai (Verfasser) Li, Linchao (Verfasser) Cheng, Guohua (Verfasser) Wen, Ting (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2022112121015708579034 DOI: 10.1007/s10489-022-04075-1 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10489-022-04075-1 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2022 |
| DDC-Notation | 006.32 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Applied intelligence (3.9.2022: 1-16) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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