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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1245890247 |
| Titel | Summary of ISO/TC 201 International Standard ISO 18516:2019 Surface chemical analysis - Determination of lateral resolution and sharpness in beam-based methods with a range from nanometres to micrometres and its implementation for imaging laboratory X-ray photoelectron spectrometers (XPS) / Wolfgang E. S. Unger, M. Senoner, Jörg M. Stockmann, V. Fernandez, N. Fairley, C. Passiu, N. D. Spencer, A. Rossi |
| Person(en) |
Unger, Wolfgang E. S. (Verfasser) Senoner, M. (Verfasser) Stockmann, Jörg M. (Verfasser) Fernandez, V. (Verfasser) Fairley, N. (Verfasser) Passiu, C. (Verfasser) Spencer, N. D. (Verfasser) Rossi, A. (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2021 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:kobv:b43-536330 DOI: 10.1002/sia.7025 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Surface and interface analysis, S. 1-8 |
| DDC-Notation | 616.075 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 610 Medizin, Gesundheit |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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