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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1018177183 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Atomic force microscope (AFM) cantilevers as encoder for real-time displacement measurements / von: Xiaomei Chen |
| Person(en) | Chen, Xiaomei (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : mbv, Mensch-und-Buch-Verl. |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2011 |
| Umfang/Format | 175 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Braunschweig, Techn. Univ., Diss., 2011 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-86387-079-9 kart. : EUR 49.90 (DE), EUR 51.30 (AT) |
| Bestellnummer(n) | 863870799 |
| EAN | 9783863870799 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik: Berichte aus dem Institut für Elektrische Messtechnik und Grundlagen der Elektrotechnik ; Bd. 36 |
| Schlagwörter | Verschiebung ; Nanometerbereich ; Messung ; Kantilever |
| DDC-Notation | 530.7 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2012 A 10131
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2012 A 42961
Bereitstellung in Leipzig |
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