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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1194650910
Titel Advanced Detection and Removal Method of Polymer Residues in Through Silicon Vias (TSV) / Helene Gehles ; Gutachter: Lothar Pfitzner ; Betreuer: Lothar Pfitzner
Person(en) Gehles, Helene (Verfasser)
Pfitzner, Lothar (Akademischer Betreuer)
Pfitzner, Lothar (Gutachter)
Verlag Erlangen : Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2019
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2019
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-120231
URL https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/12023 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Silicon* (*maschinell ermittelt)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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