Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1358777969 |
Titel | Back-to-basics tutorial: Secondary ion mass spectrometry (SIMS) in ceramics / by Zonghao Shen, Sarah Fearn |
Person(en) |
Shen, Zonghao (Verfasser) Fearn, Sarah (Verfasser) |
Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2503052133028.023729505709 DOI: 10.1007/s10832-024-00375-9 |
URL | https://doi.org/10.1007/s10832-024-00375-9 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
DDC-Notation | 530.416 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Journal of electroceramics (27.12.2024: 1-28) |
Sachgruppe(n) | 530 Physik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
