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Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1358777969
Titel Back-to-basics tutorial: Secondary ion mass spectrometry (SIMS) in ceramics / by Zonghao Shen, Sarah Fearn
Person(en) Shen, Zonghao (Verfasser)
Fearn, Sarah (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2503052133028.023729505709
DOI: 10.1007/s10832-024-00375-9
URL https://doi.org/10.1007/s10832-024-00375-9
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 530.416 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electroceramics (27.12.2024: 1-28)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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