Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1278073698 |
| Titel | Engineering Multiple Microstructural Defects for Record‐Breaking Thermoelectric Properties of Chalcopyrite Cu 1‐ x Ag x GaTe 2 |
| Person(en) |
Huang, Lulu (Verfasser) Li, Yuanyue (Verfasser) Sha, Shengmao (Verfasser) Ge, Bangzhi (Verfasser) Wu, Yucheng (Verfasser) Yan, Jian (Verfasser) Kong, Yuan (Verfasser) Zhang, Jian (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023011314154092887651 DOI: 10.1002/smll.202206865 |
| URL | https://doi.org/10.1002/smll.202206865 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 12.01.2023 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Small (12.01.2023. 12 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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