Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1255460490 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop / Yiting Wu ; Gutachter: Tino Hausotte, Eberhard Manske ; Betreuer: Tino Hausotte ; Herausgeber: Jörg Franke, Nico Hanenkamp, Tino Hausotte, Marion Merklein, Michael Schmidt, Sandro Wartzack |
| Person(en) |
Wu, Yiting (Verfasser) Hausotte, Tino (Akademischer Betreuer) Hausotte, Tino (Gutachter) Manske, Eberhard (Gutachter) Franke, Jörg (Herausgeber) Hanenkamp, Nico (Herausgeber) Hausotte, Tino (Herausgeber) Merklein, Marion (Herausgeber) Schmidt, Michael (Herausgeber) Wartzack, Sandro (Herausgeber) |
| Organisation(en) | FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek (Verlag) |
| Verlag | Erlangen : FAU University Press |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2022 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Wu, Yiting: Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop |
| Hochschulschrift | Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2021 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-189949 DOI: 10.25593/978-3-96147-514-8 |
| URL | https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/18994 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | FAU Studien aus dem Maschinenbau ; 390 |
| Anmerkungen | In: mb.fau.de/diss |
| Schlagwörter | Messtechnik ; Erweiterung ; Nanometerbereich ; Mikrometerbereich ; Oberflächenstruktur ; Weißlichtinterferometer ; Mikroskop ; Rasterkraftmikroskop |
| DDC-Notation | 621.0287 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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