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Online Ressourcen
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Titel Tatsächlicher Einfluß von Nahfeld-Effekten auf Störfestigkeitsprüfungen nach ISO 11452-2
Verlag Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover - Hannover : Technische Informationsbibliothek (TIB)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2016
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2020062606403177542834
DOI: 10.15488/5278
URL https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/5325 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Anmerkungen In: Kellerbauer, Holger; Seiger, Martin; Heinrich, Ralf: Tatsächlicher Einfluß von Nahfeld-Effekten auf Störfestigkeitsprüfungen nach ISO 11452-2. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit. Aachen : Apprimus, 2016, S. 277-284
Schlagwörter Nahfeld* ; Prüftechnik* ; Hornstrahler* ; Feldstärke* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 621.3848 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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