Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Dynamic Power Integrity Control of ATE for Eliminating Overkills and Underkills in Device Testing."
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1095446525 |
| Titel | Dynamic Power Integrity Control of ATE for Eliminating Overkills and Underkills in Device Testing / by Masahiro Ishida, Toru Nakura, Takashi Kusaka, Satoshi Komatsu, Kunihiro Asada |
| Person(en) |
Ishida, Masahiro (Verfasser) Nakura, Toru (Mitwirkender) Kusaka, Takashi (Mitwirkender) Komatsu, Satoshi (Mitwirkender) Asada, Kunihiro (Mitwirkender) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Herausgebendes Organ) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-201604037339 DOI: 10.1007/s10836-016-5582-4 |
| URL | http://dx.doi.org/10.1007/s10836-016-5582-4 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2016 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | In: Journal of electronic testing (2.4.2016: 1-15) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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