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Titel Fast and Automated Electromigration Analysis for CMOS RF PA Design / by Junjie Gu, Haipeng Fu, Weicong Na, Qijun Zhang, Jianguo Ma
Person(en) Gu, Junjie (Verfasser)
Fu, Haipeng (Sonstige)
Na, Weicong (Sonstige)
Zhang, Qijun (Sonstige)
Ma, JianGuo (Sonstige)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:1111-201702268723
DOI: 10.1007/s10836-016-5639-4
URL http://dx.doi.org/10.1007/s10836-016-5639-4
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2017
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen In: Journal of electronic testing (Bd. 33, 29.1.2017, Nr. 1, date:2.2017: 133-140)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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