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Titel The Analysis of the Polysilicon base Position of the Thermal Resistance and the Self Heating Effects of 0.13 µm SiGe Heterojunction Bipolar Transistors / by Abdelaaziz Boulgheb, Maya Lakhdara, Saida Latreche
Person(en) Abdelaaziz Boulgheb (Verfasser)
Lakhdara, Maya (Verfasser)
Latreche, Saida (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2022080500281563672002
DOI: 10.1134/S1063739722010036
URL https://doi.org/10.1134/S1063739722010036
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2022
DDC-Notation 537.6226 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Russian microelectronics (Bd. 51, 7.6.2022, Nr. 3, date:6.2022: 192-198)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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