Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Statistical Delay Fault Coverage Estimation for Synchronous Sequential Circuits."
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1197979506 |
| Titel | Statistical Delay Fault Coverage Estimation for Synchronous Sequential Circuits / by Lakshminarayana Pappu, Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal, Srinivas Mandyam-Komar |
| Person(en) |
Pappu, Lakshminarayana (Verfasser) Bushnell, Michael L. (Verfasser) Agrawal, Vishwani D. (Verfasser) Mandyam-Komar, Srinivas (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2019102521305690544566 DOI: 10.1023/A:1008228817698 |
| URL | https://doi.org/10.1023/A:1008228817698 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1998 |
| DDC-Notation | 621.395 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 12, Nr. 3, date:6.1998: 239-254) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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