Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: swiRef=042885477
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1196477310 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Verfahren der sequentiellen Merkmalsanalyse für die Mustererkennung / Peter Walter |
| Person(en) | Walter, Peter (Verfasser) |
| Verlag | Aachen : Shaker |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2000 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, 149 Seiten : 74 Abb. (pdf) |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Verfahren der sequentiellen Merkmalsanalyse für die Mustererkennung |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-2019100605221264990055 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-8265-7538-9 |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | Berichte aus der Elektrotechnik |
| Schlagwörter | Objekterkennung ; Dreidimensionale Bildverarbeitung ; Vorverarbeitung ; Merkmalsextraktion ; Klassifikator <Informatik> ; Neuronales Netz |
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