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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Verfahren der sequentiellen Merkmalsanalyse für die Mustererkennung / Peter Walter
Person(en) Walter, Peter (Verfasser)
Verlag Aachen : Shaker
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2000
Umfang/Format Online-Ressource, 149 Seiten : 74 Abb. (pdf)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Verfahren der sequentiellen Merkmalsanalyse für die Mustererkennung
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2019100605221264990055
ISBN/Einband/Preis 978-3-8265-7538-9
Sprache(n) Deutsch (ger)
Beziehungen Berichte aus der Elektrotechnik
Schlagwörter Objekterkennung ; Dreidimensionale Bildverarbeitung ; Vorverarbeitung ; Merkmalsextraktion ; Klassifikator <Informatik> ; Neuronales Netz

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