Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Programmable Logic"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/940069822 |
| Titel | Improved test generation for multiple faults in programmable logic arrays / Yongzhang Chen. Universität Karlsruhe, Fakultät für Informatik |
| Person(en) | Chen, Yongzhang (Verfasser) |
| Verlag | Karlsruhe : Univ., Fak. für Informatik |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1993 |
| Umfang/Format | 24 S. : graph. Darst. ; 30 cm |
| ISBN/Einband/Preis | geh. |
| Beziehungen | Universität Karlsruhe (TH). Fakultät für Informatik: Interner Bericht ; 93,20 |
| Anmerkungen | Status nach VGG: vergriffen |
| Sachgruppe(n) | 28 Informatik, Datenverarbeitung |
| Frankfurt |
Signatur: 1993 B 16237
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 1993 B 16237
Bereitstellung in Leipzig |
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