Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Neuigkeiten Dienstag 18. November 2025: Die Lesesäle der Deutschen Nationalbibliothek in Frankfurt am Main öffnen wegen einer Personalversammlung erst ab 13 Uhr. // Tuesday 18 November 2025: The reading rooms of the German National Library in Frankfurt am Main will open at 13:00 due to a staff assembly.
 
 

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Titel X-ray and image analysis in electron microscopy /John J. Friel & Ralf Terborg, Stefan Langner, Tobias Salge, Martin Rohde, Jana Berlin (married name: Bergholtz)
Person(en) Friel, John J. (Verfasser)
Terborg, Ralf (Verfasser)
Langner, Stefan (Verfasser)
Salge, Tobias (Verfasser)
Rohde, Martin (Verfasser)
Berlin, Jana (Verfasser)
Organisation(en) Bruker Nano GmbH (Verfasser)
Pro Business Digital Printing & Copyservice GmbH (Berlin) (Verlag)
Ausgabe 3rd edition
Verlag Berlin : Pro Business
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2017
Umfang/Format 118 Seiten : Illustrationen ; 29 cm, 580 g + 1 Blatt
ISBN/Einband/Preis 978-3-86460-674-8 Festeinband : EUR 59.90 (DE), EUR 61.60 (AT)
3-86460-674-8
Bestellnummer(n) Bestellnummer: 15178
EAN 9783864606748
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Elektronenstrahlmikroanalyse ; Elektronenmikroskop
DDC-Notation 530.417 [DDC22ger]; 502.825 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2017 B 14867
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2017 B 15419 u. Beil.
Bereitstellung in Leipzig




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