Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1178794369 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden / Miriam Rauer ; Gutachter: Jörg Franke, Randolf Hanke, Michael Kaloudis ; Betreuer: Jörg Franke ; Herausgeber: Jörg Franke, Nico Hanenkamp, Marion Merklein, Michael Schmidt, Sandro Wartzack |
| Person(en) |
Rauer, Miriam (Verfasser) Franke, Jörg (Akademischer Betreuer) Franke, Jörg (Gutachter) Hanke, Randolf (Gutachter) Kaloudis, Michael (Gutachter) Franke, Jörg (Herausgeber) Hanenkamp, Nico (Herausgeber) Merklein, Marion (Herausgeber) Schmidt, Michael (Herausgeber) Wartzack, Sandro (Herausgeber) |
| Organisation(en) | FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek (Verlag) |
| Verlag | Erlangen : FAU University Press |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2018 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Rauer, Miriam: Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden |
| Hochschulschrift | Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2018 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-104749 |
| URL | https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/10474 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | FAU Studien aus dem Maschinenbau ; 313 |
| Schlagwörter | Lumineszenzdiode ; Lötverbindung ; Weichlot ; Bleifreies Produkt ; Pore ; Lastwechselverhalten ; Zuverlässigkeit ; Rissbildung ; Finite-Elemente-Methode ; Computertomografie |
| DDC-Notation | 621.381522 [DDC23ger]; 621.381046 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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