Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1358937532 |
| Titel | Multimethod Electrical Characterization of Thin Indium Tin Oxide Films: Structuring and Calibration Sample Development for Scanning Probe Microscopy / Deniz Hülagü, Elena Ermilova, Matthias Weise, Sophie de Préville, Johannes Hoffmann, José Morán‐Meza, François Piquemal, Andreas Hertwig |
| Person(en) |
Hülagü, Deniz (Verfasser) Ermilova, Elena (Verfasser) Weise, Matthias (Verfasser) de Préville, Sophie (Verfasser) Hoffmann, Johannes (Verfasser) Morán‐Meza, José (Verfasser) Piquemal, François (Verfasser) Hertwig, Andreas (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:kobv:b43-626242 DOI: 10.1002/pssa.202400871 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: physica status solidi (a), S. 1-18 |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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