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Titel Automatic test pattern generation for hierarchical sequential circuits / Heinrich T. Vierhaus ; Uwe Gläser. Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung mbH. [Verantwortl. für dieses H.: Raul Camposano]
Person(en) Vierhaus, Heinrich Theodor (Verfasser)
Gläser, Uwe (Verfasser)
Verlag Sankt Augustin : GMD
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1993
Umfang/Format 19 S. : graph. Darst. ; 30 cm
ISBN/Einband/Preis kart. : DM 15.00
Beziehungen Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: Arbeitspapiere der GMD ; Nr. 786
Anmerkungen Literaturverz. S. 16 - 19
Status nach VGG: vergriffen
Sachgruppe(n) 28 Informatik, Datenverarbeitung

Frankfurt Signatur: 1993 B 22999
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 1993 B 22999
Bereitstellung in Leipzig




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