Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1091942870 |
| Veranstaltung | IEEE VLSI Test Symposium |
| Andere Namen |
VLSI Test Symposium Annual IEEE VLSI Test Symposium VTS (VLSI Test Symposium) IEEE Test Symposium |
| Land | Sonstiges Ausland, Unbekanntes Land (ZZ) |
| Typ | Veranstaltungsfolge (vif) |

