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Online Ressourcen
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1021422177
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Parametric Reliability of 6T-SRAM Core Cell Arrays / Stefan Drapatz. Gutachter: Walter Stechele. Betreuer: Doris Schmitt-Landsiedel
Person(en) Drapatz, Stefan (Verfasser)
Schmitt-Landsiedel, Doris (Akademischer Betreuer)
Stechele, Walter (Akademischer Betreuer)
Verlag München : Universitätsbibliothek der TU München
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2012
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift München, Technische Universität München, Diss., 2012
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss-20120316-1084703-1-8
URL http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20120316-1084703-1-8 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Statisches RAM ; Speicherzelle ; MOS-FET ; Degradation <Technik> ; Zuverlässigkeit ; Flip-Flop ; CMOS ; Nanometerbereich
DDC-Notation 621.39732 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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