Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1194495664 |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (32. : 2019 : Kitakyūshū) |
| Andere Namen |
International Conference on Microelectronic Test Structures (32. : 2019 : Kitakyūshū) ICMTS (32. : 2019 : Kitakyūshū) |
| Zeit | 18.03.2019-21.03.2019 |
| Land | Japan (XB-JP) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Kitakyūshū |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

