Simulation-based investigation of the metrological interface structural resolution capability of X-ray computed tomography scanners

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Link zu diesem Datensatz	https://d-nb.info/1278560386
Titel	Simulation-based investigation of the metrological interface structural resolution capability of X-ray computed tomography scanners
Person(en)	Busch, Matthias (Verfasser) Hausotte, Tino (Verfasser)
Umfang/Format	Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:101:1-2023011905044771684264 DOI: 10.5194/jsss-12-1-2023
URL	https://jsss.copernicus.org/articles/12/1/2023/jsss-12-1-2023.pdf https://jsss.copernicus.org/articles/12/1/2023/
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 12.01.2023
DDC-Notation	620.004 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n)	Englisch (eng)
Beziehungen	Enthalten in: Journal of sensors and sensor systems (Bd. 12, 2023, Nr. 1: 1-8. 8 S.)
Sachgruppe(n)	620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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