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Ergebnis der Suche nach: "Thomas" and "White"

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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1225619629
Titel Morphology, Defects and Thermal Stability of SiGe grown on SOI / by Qianghua Xie, Mike Kottke, Xiangdong Wang, Mike Canonico, Ted White, Bich-Yen Nguyen, Alex Barr, Shawn Thomas, Ran Liu
Person(en) Xie, Qianghua (Verfasser)
Kottke, Mike (Verfasser)
Wang, Xiangdong (Verfasser)
Canonico, Mike (Verfasser)
White, Ted (Verfasser)
Nguyen, Bich-Yen (Verfasser)
Barr, Alex (Verfasser)
Thomas, Shawn (Verfasser)
Liu, Ran (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2021012221483142950784
DOI: 10.1557/PROC-864-E3.8
URL https://doi.org/10.1557/PROC-864-E3.8
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2005
DDC-Notation 537.622 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 864, 1.10.2005, Nr. 1, date:12.2004: 381-385)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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