Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1122836392 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Nanoscale Characterization of Epoxy Interphase on Copper Microstructures / Jaeun Chung ; Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) ; Gutachter: Walter Reimers, Manfred H. Wagner, Eckhard Schulz |
| Person(en) |
Chung, Jaeun (Verfasser) Reimers, Walter (Gutachter) Wagner, Manfred H. (Gutachter) Schulz, Eckhard (Gutachter) |
| Organisation(en) | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) (Sonstige) |
| Verlag | Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2006 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Dissertation, Berlin, Technische Universität Berlin, 2006 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:kobv:b43-1435 |
| URL | https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/143 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | BAM-Dissertationsreihe ; 15 |
| Schlagwörter | Kupfer ; Epoxidharz ; Nanokomposit ; Zwischenschicht ; Steifigkeit ; Rasterkraftmikroskopie |
| DDC-Notation | 620.11892 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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