Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/96392916X |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Störungssystematikbestimmte Instandhaltung in einem Wafertransportsystem / Torsten Niekisch. Technische Universität Dresden, IPT, Institut für Produktionstechnik, Professur Fertigungsmeßtechnik und Qualitätssicherung |
Person(en) | Niekisch, Torsten (Verfasser) |
Verlag | Dresden : IPT, Professur Fertigungstechnik und Qualitätssicherung |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2001 |
Umfang/Format | 102, XIII S. : graph. Darst. ; 21 cm + 1 CD-ROM |
Hochschulschrift | Zugl.: Dresden, Techn. Univ., Diss., 2001 |
ISBN/Einband/Preis | kart. |
Schlagwörter | Infineon Technologies AG ; Wafer ; Transportsystem ; Schwachstellenanalyse ; Instandhaltung |
Sachgruppe(n) | 36 Energie-, Maschinen-, Fertigungstechnik ; 37 Elektrotechnik |
Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
Frankfurt |
Signatur: 2002 A 13116
Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2002 A 13116
Bereitstellung in Leipzig |
