Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Recognition"
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1112830332 |
Titel | Comparative Study on Statistical-Variation Tolerance Between Complementary Crossbar and Twin Crossbar of Binary Nano-scale Memristors for Pattern Recognition / by Son Ngoc Truong, SangHak Shin, Sang-Don Byeon, JaeSang Song, Hyun-Sun Mo, Kyeong-Sik Min |
Person(en) |
Truong, Son Ngoc (Verfasser) Shin, SangHak (Mitwirkender) Byeon, Sang-Don (Mitwirkender) Song, JaeSang (Mitwirkender) Mo, Hyun-Sun (Mitwirkender) Min, Kyeong-Sik (Mitwirkender) |
Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Herausgebendes Organ) |
Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-2016090313484 DOI: 10.1186/s11671-015-1106-x |
URL | http://dx.doi.org/10.1186/s11671-015-1106-x (Open Access) |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2015 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Nanoscale research letters (Bd. 10, 16.10.2015, Nr. 1, date:12.2015: 1-9) |
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