Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Amsterdam"
Treffer 13075 von 13231
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1328842924 |
| Art des Inhalts | Rezension |
| Titel | S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt (Hrsg.). Diffraction and Imaging Techniques in Materials Science. Zweite, überarbeitete Auflage; North Holland Publishing Company, Amsterdam ‐ New York ‐ Oxford 1978 2 Bände, 848 Seiten, 382 Abbildungen, Sachregister. Preis US $ 55, 50 (125, 00 Dfl.) |
| Person(en) | Schumann, B. (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2405100433112.602169009205 DOI: 10.1002/crat.19790140820 |
| URL | https://doi.org/10.1002/crat.19790140820 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 27.03.2006 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Crystal research and technology (Bd. 14, 2006, Nr. 8: K48-K48. 1 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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