Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1122836228 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes / Martin Ritter ; Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) ; Gutachter: Olaf Hellwich, Jörg Albertz, Heinz Hohenberg |
| Person(en) |
Ritter, Martin (Verfasser) Hellwich, Olaf (Gutachter) Albertz, Jörg (Gutachter) Hohenberg, Heinz (Gutachter) |
| Organisation(en) | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) (Sonstige) |
| Verlag | Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Dissertation, Berlin, Technische Universität Berlin, 2006 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:kobv:b43-1373 |
| URL | https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/137 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | BAM-Dissertationsreihe ; 21 |
| Schlagwörter | Rastersondenmikroskop ; Kalibrieren <Messtechnik> |
| DDC-Notation | 502.82 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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