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Titel Improved test generation for multiple faults in programmable logic arrays / Yongzhang Chen. Universität Karlsruhe, Fakultät für Informatik
Person(en) Chen, Yongzhang (Verfasser)
Verlag Karlsruhe : Univ., Fak. für Informatik
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1993
Umfang/Format 24 S. : graph. Darst. ; 30 cm
ISBN/Einband/Preis geh.
Beziehungen Universität Karlsruhe (TH). Fakultät für Informatik: Interner Bericht ; 93,20
Anmerkungen Status nach VGG: vergriffen
Sachgruppe(n) 28 Informatik, Datenverarbeitung

Frankfurt Signatur: 1993 B 16237
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 1993 B 16237
Bereitstellung in Leipzig




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