Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/116917535X |
| Veranstaltung | IEEE VLSI Test Symposium (36. : 2018 : San Francisco, Calif.) |
| Andere Namen |
VLSI Test Symposium (36. : 2018 : San Francisco, Calif.) VTS (36. : 2018 : San Francisco, Calif.) |
| Zeit | 22.04.2018-25.04.2018 |
| Land | USA (XD-US) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: San Francisco, Calif. |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

