Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=620.4*
![]() |
|
Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1027850235 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Characterization of Micro- and Nanometer Resolved Technical Surfaces with Function-oriented Parameters / Özgür Tan. Betreuer: Albert Weckenmann |
Person(en) |
Tan, Özgür (Verfasser) Weckenmann, Albert (Akademischer Betreuer) |
Verlag | Erlangen : Universitätsbibliothek der Universität Erlangen-Nürnberg |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters |
Hochschulschrift | Erlangen, Universität Erlangen-Nürnberg, Diss., 2012 |
Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus-36736 |
URL | http://www.opus.ub.uni-erlangen.de/opus/volltexte/2012/3673/ (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Schlagwörter | Optische Messung ; Fertigungsmesstechnik ; Oberflächenbehandlung |
DDC-Notation | 620.44 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
