Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/983605394 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Strukturelle Untersuchung der amorph-kristallinen Grenzfläche mittels quantitativer hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie an den Systemen a-Si-c-Si und a-Ge-c-Si / vorgelegt von Karsten Thiel |
| Person(en) | Thiel, Karsten (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2006 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, ca. 12,0 MB |
| Hochschulschrift | Göttingen, Univ., Diss., 2006 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:gbv:7-webdoc-1363-5 |
| URL |
http://webdoc.sub.gwdg.de/diss/2006/thiel/thiel.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich) http://webdoc.sub.gwdg.de/diss/2006/thiel/ (Verlag) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| DDC-Notation | 530.41 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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