Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/97922327X |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Phasenmessende Deflektometrie : ein Verfahren zur hochgenauen Vermessung spiegelnder Oberflächen / Ch. Horneber. Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg ; [Institute of Optics, Information and Photonics, Max Planck Research Group, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg] |
Person(en) | Horneber, Christoph (Verfasser) |
Verlag | Erlangen ; Nürnberg : Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung, Univ. |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2006 |
Umfang/Format | IV, 112 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm |
ISBN/Einband/Preis |
978-3-932392-64-1 kart. 3-932392-64-7 kart. |
Beziehungen | Progress in modern optics ; 8 |
DDC-Notation | 681.25 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 670 Industrielle und handwerkliche Fertigung |
Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
Frankfurt |
Signatur: 2006 A 44660
Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2006 A 57566
Bereitstellung in Leipzig |
