Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1011213672 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Development, validation, and application of semi-analytical interconnect models for efficient simulation of multilayer substrates / von Renato Rimolo-Donadio |
| Person(en) | Rimolo-Donadio, Renato (Verfasser) |
| Ausgabe | [Online-Ausg.] |
| Sekundärausgabe | Online-Ausg.: [2011]. Online-Ressource |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Umfang/Format | |
| Hochschulschrift | Hamburg, Techn. Univ., Diss., 2010 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:gbv:830-tubdok-10910 |
| URL | http://doku.b.tu-harburg.de/volltexte/2011/1091/ (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Mehrschichtleiterplatte ; Substrat <Mikroelektronik> ; Durchkontaktieren ; Halbleitergehäuse ; Leitungstheorie ; Elektromagnetische Verträglichkeit ; Simulation |
| DDC-Notation | 621.381531 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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