Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1139216651 |
| Veranstaltung | IEEE VLSI Test Symposium (35. : 2017 : Las Vegas, Nev.) |
| Andere Namen |
VLSI Test Symposium (35. : 2017 : Las Vegas, Nev.) VTS (35. : 2017 : Las Vegas, Nev.) |
| Zeit | 09.04.2017-12.04.2017 |
| Land | USA (XD-US) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Las Vegas, Nev. |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

