Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1001561546 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Dynamic parameter identification techniques and test structures for microsystems characterization on wafer level / Alexey Shaporin. Technische Universität, Chemnitz |
Person(en) | Shaporin, Alexey (Verfasser) |
Ausgabe | [Online-Ausg.] |
Sekundärausgabe | Online-Ausg.: [Chemnitz] : [Bibliothek der Techn. Univ.], 2009. Online-Ressource |
Verlag | Chemnitz : Univ.-Verl. |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2009 |
Umfang/Format | 184 S. : Ill., graph. Darst. ; 22 cm (PDF) |
Hochschulschrift | Zugl.: Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2009 |
Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:ch1-200901902 |
URL | http://archiv.tu-chemnitz.de/pub/2009/0190 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
ISBN/Einband/Preis | 978-3-941003-09-5 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Schlagwörter | Mikrosystemtechnik ; Wafer ; Layout <Mikroelektronik> ; Parameteridentifikation ; Eigenfrequenz ; Toleranzanalyse |
DDC-Notation | 621.381548 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
