Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1149854340 |
| Veranstaltung | International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (2017 : Hsinchu) |
| Andere Namen | VLSI-DAT (2017 : Hsinchu) |
| Zeit | 24.04.2017-27.04.2017 |
| Land | Taiwan (XB-TW) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Hsinchu |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

