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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel X-Ray Microanalysis with Transition Edge Sensors : The Future of Material Analysis with Scanning Electron Microscopes / Christian Hollerith. Gutachter: Reiner Krücken. Betreuer: Franz von Feilitzsch
Person(en) Hollerith, Christian (Verfasser)
Feilitzsch, Franz von (Akademischer Betreuer)
Krücken, Reiner (Akademischer Betreuer)
Verlag München : Universitätsbibliothek der TU München
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2006
Umfang/Format Online-Ressource
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Hollerith, Christian: X-ray microanalysis with transition edge sensors
Hochschulschrift München, Technische Universität München, Diss., 2006
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss20060811-1400030293
URL http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss20060811-1400030293 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
DDC-Notation 530.417 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

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