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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/105034197X
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Studying the Effect of Cu Microstructure on Electromigration Reliability using Statistical Simulation / Matthias Kraatz
Person(en) Kraatz, Matthias (Verfasser)
Ausgabe 1. Aufl.
Verlag Aachen : Shaker
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2014
Umfang/Format Online-Ressource : 24 farb. Ill. (pdf)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Kraatz, Matthias: Studying the effect of Cu microstructure on electromigration reliability using statistical simulation
Hochschulschrift Zugl.: The University of Texas at Austin, USA, Diss., 2011
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-201404274306
ISBN/Einband/Preis 978-3-8440-2549-1
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Berichte aus der Materialwissenschaft
Anmerkungen Lizenzpflichtig
Schlagwörter Kupfer ; Elektromigration
DDC-Notation 530.415 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

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