Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations.
 
 

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Titel YOLOv4-Based Semiconductor Wafer Notch Detection Using Deep Learning and Image Enhancement Algorithms / by Hao Wang, Hyo Jun Sim, Jong Jin Hwang, Sung Jin Kwak, Seung Jae Moon
Person(en) Wang, Hao (Verfasser)
Sim, Hyo Jun (Verfasser)
Hwang, Jong Jin (Verfasser)
Kwak, Sung Jin (Verfasser)
Moon, Seung Jae (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2411250841326.426861713843
DOI: 10.1007/s12541-024-01092-7
URL https://doi.org/10.1007/s12541-024-01092-7
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 006.37 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: International journal of precision engineering and manufacturing (Bd. 25, 16.8.2024, Nr. 9, date:9.2024: 1909-1916)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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