Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1131280598 |
| Veranstaltung | IEEE Asian Test Symposium (25. : 2016 : Hiroshima) |
| Andere Namen |
Asian Test Symposium (25. : 2016 : Hiroshima) ATS (25. : 2016 : Hiroshima) |
| Zeit | 21.11.2016-24.11.2016 |
| Land | Japan (XB-JP) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Hiroshima |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

