Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
|
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1115375008 |
| Veranstaltung | International Conference on Microelectronic Test Structures (29. : 2016 : Yokohama) |
| Andere Namen | ICMTS (29. : 2016 : Yokohama) |
| Zeit | 28.03.2016-31.03.2016 |
| Land | Japan (XB-JP) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Yokohama |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

