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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Region of interest synchrotron nanotomography and nanodiffraction with FIB/SEM characterisation on engineering materials / Daniel Laipple. Betreuer: Andreas Schreyer
Person(en) Laipple, Daniel (Verfasser)
Schreyer, Andreas (Akademischer Betreuer)
Verlag Hamburg : Staats- und Universitätsbibliothek Hamburg
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2015
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift Hamburg, Universität Hamburg, Diss., 2015
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:gbv:18-74020
URL http://ediss.sub.uni-hamburg.de/volltexte/2015/7402/ (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Schlagwörter Rasterelektronenmikroskop ; Tomografie ; Synchrotron ; Werkstoff
DDC-Notation 548.83 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 540 Chemie ; 530 Physik

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