Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
|
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1341254410 |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (36. : 2024 : Edinburgh) |
| Andere Namen |
International Conference on Microelectronic Test Structures (36. : 2024 : Edinburgh) ICMTS (36. : 2024 : Edinburgh) ICMTS Conference (36. : 2024 : Edinburgh) |
| Quelle | Homepage (Stand: 06.09.2024): https://icmts.net/2024/ |
| Zeit | 15.04.2024-18.04.2024 |
| Land | Großbritannien (XA-GB) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Edinburgh |
| Beziehungen zu Organisationen | Sponsor: IEEE Electron Devices Society |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

