Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/123897967X |
| Titel | Three-Dimensional Orientation Microscopy in a Focused Ion Beam–Scanning Electron Microscope: A New Dimension of Microstructure Characterization / by S. Zaefferer, S.I. Wright, D. Raabe |
| Person(en) |
Zaefferer, S. (Verfasser) Wright, S.I (Verfasser) Raabe, Dierk (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021081410300551519805 DOI: 10.1007/s11661-007-9418-9 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s11661-007-9418-9 (Open Access) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2008 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Metallurgical and materials transactions / A / Physical metallurgy and materials science (Bd. 39, 4.1.2008, Nr. 2, date:2.2008: 374-389) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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