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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/981643590
Art des Inhalts Konferenzschrift, 2006, Hongkong
Titel Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshops ; proceedings / SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17 - 19, 2006. Dit-Yan Yeung ... (ed.)
Person(en) Yeung, Dit-Yan (Mitwirkender)
Organisation(en) SSPR (11 : 2006 : Hongkong) (Herausgebendes Organ)
Verlag Berlin ; Heidelberg : Springer
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2006
Umfang/Format Online-Ressource (PDF)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Structural, syntactic, and statistical pattern recognition
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:1111-200604202493
DOI: 10.1007/11815921
URL https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-540-37236-3 (Verlag)
ISBN/Einband/Preis 978-3-540-37241-7
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Lecture notes in computer science ; 4109
Anmerkungen Lizenzpflichtig
Schlagwörter Mustererkennung ; Kongress ; Hongkong <2006> ; Online-Publikation
DDC-Notation 006.4 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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