Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1318281431 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Test beam analysis of irradiated stitched passive CMOS strip sensors |
| Person(en) |
Lex, Fabian Simon (Verfasser) Jakobs, Karl (Akademischer Betreuer) |
| Organisation(en) | Experimentelle Teilchenphysik, Abt. Prof. Karl Jakobs (Mitwirkender) |
| Verlag | Freiburg : Universität |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Hochschulschrift | Masterarbeit, Universität Freiburg, 2023 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:bsz:25-freidok-2433323 DOI: 10.6094/UNIFR/243332 |
| URL | https://freidok.uni-freiburg.de/data/243332 (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Streifendetektor ; CMOS ; Hochenergiephysik |
| DDC-Notation | 539.77 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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