Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=621.3*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/985159618 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | On the test complexity of VLSI systems / Hongzhong Wu |
| Person(en) | Wu, Hongzhong (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2007] |
| Umfang/Format | Online-Ressource, ca. 0,8 MB |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: On the test complexity of VLSI systems |
| Hochschulschrift | Saarbrücken, Univ., Diss., 1994 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:291-scidok-11971 |
| URL |
http://scidok.sulb.uni-saarland.de/volltexte/2007/1197/pdf/Dissertation_6242_Wu_Hong_1994.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich) http://scidok.sulb.uni-saarland.de/volltexte/2007/1197/ (Verlag) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | VLSI ; Schaltnetz ; Baum <Mathematik> ; Testbarkeit ; Komplexität |
| DDC-Notation | 621.381537 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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