Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Titel Untersuchungen zur rechnergestützten Generierung von Tests für die Fehlerdiagnose in binären Schaltsystemen / Siegfried Lange
Person(en) Lange, Siegfried (Verfasser)
Umfang/Format 30 cm
Hochschulschrift Dresden, Techn. Univ., Fak. für Elektrotechnik/Elektronik, Diss. A, 1976. -- (Nicht für den Austausch)
Schlagwörter Schaltung (Elektronik) / Fehlerdiagnose ; Fehlerlokalisierung / binäre Schaltsysteme
Sachgruppe(n) 0800 Energiewirtschaft, Elektrotechnik, Elektronik
Zugehörige Bände 2 Publikationen
  1. Untersuchungen zur rechnergestützten Generierung von Tests für die Fehlerdiagnose in binären Schaltsystemen / [1.]
    1976
  2. Untersuchungen zur rechnergestützten Generierung von Tests für die Fehlerdiagnose in binären Schaltsystemen / Bd. 2.
    1976





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